Mikromechanik
Die Mikromechanik ist der Bereich der Mikrosystemtechnik, der sich mit Konstruktion, Herstellung und Anwendung mechanischer Bauelemente mit Abmessungen von wenigen bis mehreren 100 ”m befasst. Man unterscheidet einfache Strukturen (z. B. Gitter, Löcher, KanĂ€le), Sensoren, Aktoren (z. B. Relais, Schalter, Ventile, Pumpen) und Mikrosysteme (Mikromotoren, Druckköpfe). Zur Herstellung werden Technologien eingesetzt, die auch in der Mikrochip-Fertigung zum Einsatz kommen (z. B. galvanische Verfahren, Ătzverfahren, Lasertechnik), es werden aber auch die Photolithographie, DĂŒnnschicht-, Siebdruck- und LIGA-Technik genutzt. Die direkte werkzeuglose Herstellung von mikromechanischen Kunststoffbauteilen ist mit den patentierten RMPD-Techniken (RMPD = Rapid Micro Product Development, vgl. Schnelle Produktentwicklung) möglich.

Silizium-Bulk-Mechanik
[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]Freistehende mechanische Strukturen werden durch ein- oder beidseitiges Ătzen aus einem Silizium-Wafer gewonnen. Sie entstehen durch das von der Kristallorientierung abhĂ€ngige Ătzen von Silizium in alkalischen Lösungen (meist Kaliumhydroxid-Lösung, KOH-Lösung); dieses Verfahren wird oft auch anisotropes NassĂ€tzen genannt, was die Natur des Ătzprozesses nicht exakt widerspiegelt. Der anisotrope Charakter des Ătzverfahrens resultiert aus der unterschiedlichen Ătzrate der unterschiedlichen Kristallrichtungen des Siliziums (vgl. Millersche Indizes). Die beiden wesentlichen Kristallebenen sind hierbei die {100}Si- und die {111}Si-Ebenen. Die Ătzrate RR betrĂ€gt je nach Prozessparameter ungefĂ€hr RR{111}:RR{100} = 1:100, das heiĂt, die {100}Si-Ebenen werden 100-mal schneller geĂ€tzt als die {111}Si-Ebenen. Die Ursache fĂŒr diesen Unterschied liegt in der Anzahl der an der jeweiligen OberflĂ€che befindlichen Atome.

FĂŒr die Herstellung von Strukturen ist es notwendig, Bereiche der SubstratoberflĂ€che zu maskieren, so dass hier das Ătzmittel nicht angreifen kann. Typische Ătzmasken sind Schichten aus Siliziumnitrid oder Siliziumdioxid, welche deutlich niedrigere Ătzraten in KOH-Lösung im Vergleich zu Silizium aufweisen. GeĂ€tzt wird nur der Teil, der nicht von einer Ătzmaske abgedeckt wird (unmaskierte Bereiche).
Die entstehenden Strukturen sind vom Substrat bzw. der Substratorientierung und der Maskierung abhĂ€ngig. Ausgehend von einem {110}Si-Wafer (Abbildung 1 rechts) entstehen beim Ătzen GrĂ€ben mit senkrechten WĂ€nden, die {111}Si-FlĂ€chen, die durch die deutlich geringere Ătzrate eine Art natĂŒrlichen Ătzstopp bilden. Ătzt man hingegen einen {100}Si-Wafer (Abbildung 1 links), entstehen zunĂ€chst trapezförmige GrĂ€ben. Die schrĂ€gen SeitenwĂ€nde sind hier wiederum die {111}Si-FlĂ€chen. Der Verkippungswinkel von 54,74° ergibt sich aus der Diamantstruktur, in der Silizium kristallisiert. Bei ausreichend langer Ătzdauer berĂŒhren sich die beiden SeitenflĂ€chen des nun v-förmigen Grabens.
Silizium-OberflÀchen-Mikromechanik
[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]Mechanische Strukturen werden durch mehrere Ătz- und AbscheidungsvorgĂ€nge an der WaferoberflĂ€che gewonnen. Der besondere Vorteil dieser Technik besteht darin, dass sich die mikromechanischen Strukturen zusammen mit elektrischen Schaltungen auf einem Mikrochip vereinigen lassen; teilweise sind sogar gemeinsame Prozessschritte zwischen mechanischem und elektrischem Teil möglich. Durch diese Integration lassen sich nicht nur Fertigungskosten reduzieren, sondern auch Lösungen realisieren, die bei rĂ€umlicher Trennung von elektrischen und mechanischen Komponenten nicht denkbar wĂ€ren, etwa wegen parasitĂ€rer KapazitĂ€ten an elektrischen Verbindungen zwischen den Komponenten.
Zu den bereits realisierten mikromechanischen Systemen zĂ€hlen elektromechanische Schalter fĂŒr Höchstfrequenzanwendungen, mechanisch abstimmbare Kondensatoren und Inertialsensoren.
Fertigungsschritte
[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]Am Beispiel eines kapazitiven Beschleunigungssensors sollen die möglichen Prozessschritte in der Silizium-OberflÀchen-Mikromechanik verdeutlicht werden (siehe Abbildung 2):

Auf die obersten Siliziumschichten des elektrischen Prozesses (a) wird zunĂ€chst eine Opferschicht aus einem Material, das spĂ€ter in einem NassĂ€tzverfahren wieder entfernt werden kann, abgeschieden (b). Diese Opferschicht wird nun an den Stellen, wo spĂ€ter StĂŒtzen fĂŒr die mechanische Struktur entstehen sollen, bis zur Siliziumschicht weggeĂ€tzt (c).
In die dabei entstehenden LĂŒcken wird beim nachfolgenden Prozessschritt Silizium abgeschieden, so dass eine polykristalline Siliziumschicht entsteht, die mit der unteren Schicht durch StĂŒtzen verbunden ist (d).
Nachdem die neu entstandene Schicht durch einen weiteren Ătzprozessschritt (z. B. anisotropes TrockenĂ€tzen) strukturiert wurde (e), kann in einem NassĂ€tzverfahren die Opferschicht unter der Polysiliziumschicht entfernt werden, so dass eine annĂ€hernd beliebig strukturierte Schicht entsteht.
Im Falle eines Beschleunigungssensors enthĂ€lt diese Schicht eine groĂe FlĂ€che (Referenzmasse) und dĂŒnne Stege, die diese FlĂ€che mit verankerten (also durch SĂ€ulen mit der unteren Schicht verbundenen) Strukturen verbindet. Diese Stege wirken als Balkenfedern, so dass die Referenzmasse unter dem Einfluss von KrĂ€ften beweglich ist.
Wird der gesamte Chip nun in der Chipebene beschleunigt, wirkt eine Kraft auf die Referenzmasse, so dass sie aus ihrer Ruheposition ausgelenkt wird. Dadurch Àndern sich die AbstÀnde und damit die KapazitÀten zwischen diesem beweglichen Teil und den angrenzenden unbeweglichen Strukturen in der Ebene. Diese meist sehr schwachen KapazitÀtsÀnderungen können nun von der CMOS-Schaltung auf demselben Chip ausgewertet werden.
Um die KapazitÀtsÀnderungen so groà wie möglich zu machen, werden in der Regel Referenzmasse und unbewegliche Teile als Struktur von ineinandergreifenden KÀmmen gestaltet: Je tiefer die Zinken der KÀmme ineinander eintauchen, desto höher wird die KapazitÀt.
Literatur
[Bearbeiten | Quelltext bearbeiten]- Ulrich Hilleringmann: Mikrosystemtechnik: Prozessschritte, Technologien, Anwendungen. 1. Auflage. Vieweg+Teubner, 2006, ISBN 3-8351-0003-3.
- Stephanus BĂŒttgenbach: Mikromechanik: EinfĂŒhrung in Technologie und Anwendungen. 1. Auflage. Teubner, 1991, ISBN 3-519-03071-3.